李洪瑛.介绍一种超声厚度测量仪[J].声学技术,1989,(3):45~46 |
介绍一种超声厚度测量仪 |
|
|
DOI: |
中文关键词: |
英文关键词: |
基金项目: |
|
摘要点击次数: 1347 |
全文下载次数: 755 |
中文摘要: |
美国专利1984年公布了一种可编程序的超声厚度测量仪。它具有自动零点校正、自动探头识别、自动温度补偿和高温报警等多种功能。可在预定的时间间隔内存储和显示最小壁厚,还可指示测量厚度和预期值之间的差。若将试块的厚度值输入存储器,则可测得材料的声速。一、探头的结构 测量仪所用的是双基元探头。图1是探头的剖面图和使用该测量仪的方框图。此探头〔10〕是由两片压电元件构成的。其中一片〔12〕是发射—接收型,另一片(14)是接收型。两者分别以一定的角度耦合在用相同热塑性聚合材料制成的延迟线(16和18)上,两延迟线彼此平行中间用软木类隔声材料(20)从声学和电学上加以隔离,然后被封装在同一只外壳(11)内。 |
英文摘要: |
|
查看全文
查看/发表评论 下载PDF阅读器 |
关闭 |
|
|
|