王正刚.超声测厚仪的研究[J].声学技术,1991,(4):15~18 |
超声测厚仪的研究 |
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自四十年代美国GM公司首次推出超声波测厚仪以来,至今已广泛应用于航天、石油、化工、造船、交通等各领域。当初,GM公司的超声波测厚仪是采用共振法。由于这种方法受到被测工件的光洁度要求高及测量范围窄的限制。因此,脉冲法已成为当今超声测厚的主流。脉冲法超声波测厚是测量超声波在被测物中往返所需要的时间,通过声速校正,得出被测物的厚度值。超声波测厚仪可以测量金属或非金属材料的厚度,也可以测定材料的声速,借此判断材料的性质,还可以检查距离较近表面的缺陷。二、共振法超声波测厚仪共振法可测厚度为0.1毫米以上的材料,精度较高,但对工作表面光洁度要求较高。适用于测量飞机及导弹等表面光洁的材料。 |
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