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方健文,张淑仪.半导体光声层析中的电场效应[J].声学技术,1997,(3):158~160
半导体光声层析中的电场效应
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作者
单位
方健文
南京大学声学研究所近代声学国家重点实验室
,
南京 210093
张淑仪
南京大学声学研究所近代声学国家重点实验室
,
南京 210093
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中文摘要
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光声效应对样品的光学、热学性质差异非常敏感,利用光声效应对多层次固体样品进行无损的深度剖面检测一直是人们重视的课题。
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